Far-IR에서 가장 주된 문제는 언제나 그렇듯이 강한 수분피크이다. 강한 purge와 진공으로 이러한 문제를 제거하는데 사용되어 왔다. 그러나 Dry Air를 사용한 간단한 purge도 수분피크를 최소화하는 것에는 충분하다. 이번 실험에서 보여지는 모든 데이터는 수분피크를 제거하기 위한 별도의 소프트웨어 처리과정을 하지 않았다. purge상태에서 시료의 주입은 초기 purge 환경을 잘 만들어 놓기만 하면 빠르게 분석을 진행할 수 있게 한다.

또 다른 문제는 Mid-IR에서 Far-IR로 optic을 교체할 때 스펙트럼에 영향을 주는지에 관한 것이다. <자료 1>의 데이터는 카드뮴이 없는 시료의 데이터이며, Mid-IR과 Far-IR로 각각 측정한 것을 Overlap하여 나타낸 것이다. 어떠한 후처리 과정도 하지 않았으며, 두 개 모두 Y축 단위가 같은 공통 스케일(Common Scaled)로 하였다. Overlap된 영역의 스펙트럼은 peak의 위치와 intensity에서 일치하며, 매우 비슷하게 겹쳐지는 것을 확인 할 수 있다. 이는 측정 영역을 Mid-IR에서 Far-IR로 하기 위해 기기구성(Beamsplitter, Detector)을 변경하는 과정에서 외부의 영향이 없었음을 확인할 수 있다.

두 가지 시료군의 Far-IR 스펙트럼은 <자료 2>에서와 같이 매우 다르게 보인다. 250cm-1의 큰 중심 피크는 카드뮴의 존재함을 정확히 보여주며 카드뮴이 없는 시료의 평평한 baseline과는 현저한 대조를 보인다. Mid-IR의 피크는 플라스틱 자체 피크이며 Far-IR의 피크로 cadmium 첨가제 존재 여부에 대하여 명확하게 구분할 수 있다.

<자료 3>의 백색분말 분석은 Far-IR분석의 예를 잘 보여준다. Mid-IR영역 전체에 걸쳐 시료에 대한 어떠한 피크도 검출되지 않는 반면, 600cm-1 이하에서 yttrium oxide라는 것을 확인할 수 있는 여러 큰 피크들이 검출된다. 해당 자료 역시 별도의 스펙트럼의 보정은 하지 않았다.

SMART Orbit Diamond ATR Accessory를 이용하여 우수한 data를 얻을 수 있다는 것을 확인하였다. 강한 Diamond와 높은 압력에도 견딜 수 있는 이 액세서리는 스펙트럼 전체영역을 ATR로 측정 할 수 있는 해결책을 제공할 것이다. 또한 이 액세서리는 사용자로 하여금 수분의 간섭과 분석에 소요되는 시간을 최소화하여 신속하게 Far-IR 실험을 할 수 있도록 할 것이다.