2008년 4월 새로이 출시된 iN10 IR Microscope는 FT-IR Main과 연결하지 않고 자체적으로 IR Source와 Interferometer, Detector를 가지고 있는 Dedicated System이다.
50miron이상의 샘플은 액화질소로의 냉각이 필요 없이 실온에서 사용 가능한 검출기를 사용함으로써, 쉽고 빠르게 미소샘플 분석이 가능해졌다. 또한, iN10 MX는 IR Microscope Imaging System으로써, 1분에 150개의 Spectrum을 얻을 수 있으므로 매우 빠른 Imaging 분석이 가능하다.
■ Specification
- Spectral Range : 7,600 450cm-1(DTGS), 7,800 650cm-1(MCT-A), 7,800 720c m-1(MCT-A linear array)
- Signal-to-Noise : 25,000:1 with cooled detector
- Interferometer : dynamic aligned high-speed interferometer up to 10scan/sec at 16cm-1
- Beamsplitter : Ge-on KBr
- Detector : DTGS (standard), 50 microns
- MCT-A (Optional) 16hrs LN2 hold time, 10microns or less
- Simultaneous View Mode : 샘플의 IR Data를 측정함과 동시에 Sample을 계속해서 볼 수 있기 때문에 있고 Targeting 된 Sample의 측정과정을 사용자가 연속적으로 Monitoring할 수 있어서 측정 Error나 Human Error를 제거할 수 있다.
- Gold Optic : 내부의 Optic이 모두 Gold로 되어있기 때문에 IR Beam 손실을 막아주고 더 높은 Intensity를 낼 수 있도록 하였다.
- Dual Mode Aperture : IR Beam이 Aperture를 두 번 지나면서 Sample 측정 시 생기는 회정광을 제거해 줄 수 있어 공간분해능이 증가하고, 더욱 정확한 스팩트럼을 얻을 수 있다.
- Anti-Reflection Ge Micro ATR : Ge Crystal에 Anti-Reflection Coating 처리가 되어 투과 대비 50%의 Throughput을 제공하므로 3microns 이하의 Sample 측정이 용이하다.
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