Introduction
빛이 시료를 통과하거나 반사될 때 시료에 흡수되는 빛의 양은 입사광 (Incident Radiation, I°)과 투과광 (Transmitted Radiation, I)의 차이다.
흡수된 빛의 양은 투광도 혹은 흡광도로 표현된다.
투광도 (T)는 입사광에 대한 투과광의 비율을 말하며, 다음과 같이 정의된다.
T = I / I° 또는 %T = (I / I°) x 100
투광도 역수의 상용대수를 흡광도 (A)라고 정의한다.
A = -logT
이번 실험에서는, 유리판의 투광도와 IR Filter의 Wavelength Cutoff를 측정하였다.
PDA (Photodiode Array) 방식의 UV-Vis Spectrophotometer는 IR Filter에서 빛의 정확한 Cutoff를 확인할 때 사용될 수 있다. 이번 응용에서처럼, IR Filter의 Quality를 평가하려면 전 파장 스펙트럼을 얻어야 하는데, PDA UV-Vis Spectrophotometer를 이용하여 전 파장의 스펙트럼을 동시에 측정하면 Q.C 과정이 더욱 빠르고 편리해질 것이다. 그러하여 PDA UV-Vis Spectrophotometer의 이런 특징은 생산성 향상에 직결될 것이다.
고체 Sample의 투광도는 입사각도에 따라 달라질 수 있으므로, 이번 실험에서는 Sample을 Magnetic Film Holder에 수직으로 고정시켜 재현성 있고 정확한 Data를 얻을 수 있었다.
Reagents & Apparatus
1. S-3150 (PDA UV-Vis Spectrophotometer)
2. Magnetic Film Holder Accessory
3. LabPro® Plus S/W
4. Sample (Glass Plate, IR Filter)
Procedure
1. Parameter를 설정한다.
2. Blank를 측정한다.
3. Magnetif Film Holder에 Sample
을 고정시킨다.
4. 투광도를 측정한다.
Instrument Parameters
적용한 Parameter는 다음과 같으며, Figure 1에 측면 화면을 나타내었다.
Experiment setup
Data Type : Transmittance
Sampling : Single Cell
Spectra No. : 1
Scan No. : 30
Integration No. : 1
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